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　　有創性ICP監護

　　腦室內導管監測法側腦室前角穿刺后，將探頭安置在側腦室前角內，另一端經三通管連接監護儀和腦室引流瓶，此法是臨床上最常用的方法，較其他方法準確可靠，被稱為ICP監護的“金標準”法，但此法因穿刺較深易損傷腦組織，感染率達6%～11%，高于腦實質內置管法的1.7%～4%，ICP急劇增高時腦室發生變窄或移位，穿刺和置管的難度則相應增大。

　　腦實質內光纖傳感器監測法將一條帶有傳感器的細纖維光纜置入腦實質內進行監護。該方法降低了感染和顱內出血等風險，但準確性低于腦室內導管法，也不能具備引流腦脊液的作用。

　　硬膜外和硬膜下測壓法一般于側腦室前角穿刺部位，切開頭皮顱骨鉆孔，將帶有傳感器的探頭置入顱骨內板與硬腦膜之間或硬腦膜與軟腦膜之間，這兩種方法探頭安置方便，感染風險下降，損傷較輕，但易引起硬膜反應性增厚，因此降低了敏感性，且準確性相對較差。

　　無創性ICP監護由于創傷性ICP監護法安置探頭需開顱，操作復雜，損傷大，且易感染，從上世紀八十年代起，無創性測壓理論逐漸進入科學家們的視野，現已成為研究的一大熱點和難點。報道較多的無創性監測法如下。

　　經顱多普勒法搏動指數(gosling pulsatility index，PI)=(收縮峰血流速度-舒張期末血流速度)/平均速度，ICP增高時腦底大動脈舒張期血流速度減少，收縮峰變尖，PI增加?；贗CP與PI這種相關性，經顱多普勒通過監測腦底大動脈血流速度來間接反映ICP變化。但由于腦血管活性易受其他多種因素影響，且不同個體差異較大，PI與ICP之間的相關性缺乏特異性，故TCD法還不能成為可靠、有效的ICP監測手段。

　　經前囟測壓法(AFP)AFP法僅適用于突出于骨緣的前囟，但下壓外突的前囟可增高ICP，對患兒造成不利。

　　閃光視覺誘發電位法(f-vep)1984年YorkD發現視覺誘發電位的第二負向波(N2波)的延遲時間與顱內壓具有直接線性相關關系，通過測量N2波的延遲時間，求得顱內壓值，2001年Desch證實了此規律，國內也有文獻支持f-vep監護法的敏感性和準確性。但此方法也具有局限性:易受腦代謝因素如PaCO2、PO2、pH及BP等影響；嚴重視力障礙、眼底出血等眼部疾病，或顱內占位壓迫、破壞視通路時，均對f-vep存在影響；部分深昏迷或腦死亡患者f-vep消失。